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光學(xué)篩選機(jī)

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碗型彈簧墊圈表面缺陷檢測(cè)�(jī)的檢�(cè)原理--上海邁迅威視覺科技

作者: 上海邁迅威視覺科技有限公司�(fā)表時(shí)間:2018-05-19 15:30:19瀏覽量:3289

光學(xué)篩選�(jī)在碗型彈簧墊圈表面缺陷中的應(yīng)�,CCD光學(xué)篩選�(jī)、視覺檢�(cè)�(shè)備廠�
文本�(biāo)簽:外觀缺陷檢測(cè)�(jī)、CCD光學(xué)篩選�(jī)、視覺檢�(cè)�(shè)備廠�

        

碗型彈簧墊圈表面缺陷檢測(cè)不同于一般平面墊片外觀缺陷檢測(cè),平面墊圈表面缺陷檢�(cè)相對(duì)比較容易,因?yàn)樯舷率莾蓚€(gè)平面,光線容易照�,光源選型容�,鏡頭要求不高,算法要求也沒那么�。但是碗型彈簧墊圈上下面缺陷檢測(cè)就不一樣了,因?yàn)樯舷旅媸峭剐秃桶�?�?duì)光源的照射角度以及光源形狀的選型都有很大的�(guān)�,可能角度不合適就不能拍出完美的照片�

        凸凹?jí)|圈表面缺陷檢測(cè)

上海邁迅威視覺科技有限公司研發(fā)�(tuán)�(duì),經(jīng)過多年的努力,在表面缺陷檢測(cè)�(lǐng)域已�(jīng)形成的自己的核心�(jìng)�(zhēng)力,有著�(dú)到的技�(shù)�(yōu)�(shì),不論是光源選型打光或者軟件算法設(shè)�(jì)都有著十多年的技�(shù)積累,比如這種碗型墊片表面缺陷檢測(cè)算法�,可根據(jù)用戶的需求自由調(diào)整檢�(cè)的靈敏度,自由調(diào)整視為缺陷面積的大小,來滿足不同客戶�(duì)�(zhì)量的把關(guān)要求�

表面缺陷識(shí)別

2018-05-19 3289人瀏覽

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